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 中古装置販売

RTS-4

特徴

  • COF向けトレーシングテストシステム
  • トレーシングプローブによるファインパターンの
    Open/Short検査が可能。
  • ランニングコストの低減
    高価な治具を製作する必要がありません。

仕様

  • 適用可能ワークSize: 35/48/70/105/120/156/158mm幅
    ※ワーク幅は、客先の要求にて製作可能
  • Test Head数: 4Head(ライン＆スペース:11μ/11μ)
  • 装置Size: 3800(W)×1400(D)×2350(H)mm
    重量 : 約1690kg

AHD-GS

特徴

  • ダイレクト接続タイプのテスターユニットを採用
  • 高精度、高速検査が可能
  • マイクロショート検査機能において高電圧印加によるダメージを受けない
  • オプションテスト：マイクロショートテスト,バーンアウトテスト,四端子測定検査

仕様

  • 適用可能PCB Size: 60(W)×50(D)～260(W)×200(D)mm
    厚み:0.3～2.0mm
  • Test Point数: QD:16384ポイント(上側:8192/下側8192ポイント)
  • 装置Size: 3300(W)×2300(D)×22330(H)mm
    重量 : 約6500kg

AIX-5000

特徴

  • ダイレクト接続タイプのテスターユニットを採用
  • 高精度、高速検査が可能
  • マイクロショート検査機能において高電圧印加によるダメージを受けない
  • オプションテスト：マイクロショートテスト,バーンアウトテスト,四端子測定検査

仕様

  • Max Pin No: 16384Pin(Upper:8192pin/Lower:8192pin)
  • Input Voltage: 5V to 250V
  • Open Test
    Input Voltage: 5V to 250V
    Input Current: Max.25mA
    Resistance Measurement Range: 1Ω to 500KΩ
  • Leak Test
    Input Voltage: 5V to 250V
    Input Current: Max.5mA
    Resistance Measurement Range: 10kΩ to 200MΩ
  • Micro Short Test
    Input Voltage: 5V to 250V
    Input Current: Max.100μA
    Resistance Measurement Range: 100kΩ
  • Option Test: Burn-out test,4-wire test

AiCt -ZR series （オールマイティーサーキットテストシステム）

１台でオールマイティーの機能を備えた、画期的なテストシステムです。

検査・測定項目

  • 標準検査
  • マイクロΩ・ミリΩ測定
  • ＬＣＲ測定
  • 実装オープン・ショート検査
  • インサーキット検査
  • バーンインボード検査
  • ファンクション検査

AiCt-ZR LCR 4K


  • ２Ｋユニット、４Ｋユニットの選択可能
  • 最小128ピンから最大32,768ピンまで増設可能
    (注1),(注2)
  • 多ピン、低電圧：低抵抗～高抵抗、高電圧：低抵抗～高抵抗まで幅広く検査が可能
  • 組合わせにより、色々な測定検査を可能にした優れもの
(注1)   
  
  
  
(注2)   
  
  
  
未実装回路基板のオープン、リーク検査などの標準検査やマイクロ、ミリオーム検査の場合は、
４Ｋのユニットで最小128ピンから最大32,768ピンまでのシステムと、
２Ｋのユニットで最小128ピンから最大16,384ピンまでのシステムの２種類の選択が可能です。
  
実装回路基板のオープン、ショート検査、DC各測定検査、AC各測定検査、インサーキット検査、
バーンインボード検査、単体ファンクション検査の場合は、
４Ｋのユニットで最小128ピンから最大16,384ピンまでのシステムと、
２Ｋのユニットで最小128ピンから最大8,192ピンまでのシステムの２種類の選択が可能です。


チップ オン サーキット テスター

Aift-DOL





IC実装後の回路状態の検査が行えます。




実装 COF・TCP用 チップ オン エージングテストシステム


チップオンサーキットテスタ又は、
機能テスタと環境試験装置を組合わせ、
様々な温度・湿度設定の中でエージングテストをするシステムです。


スタンダードエージングシステム

チップオンサーキットテスタとの組合わせ

テストエージングシステム

機能テスタとの組合わせ